二次元測量產品對稱度的步驟通常如下:
首先,需要明確基準要求,比如面或線。以測量平面 1 與平面 2 相對于基準 A 的對稱度為例(默認為左右共面):
1. 在基準 A 所指的兩個面分別測量,得到 PLN1 和 PLN2。
2. 構造 PLN1 和 PLN2 的中分面 PLN3 作為基準 A。
3. 將坐標 Z 原點移至 PLN3(為后續抓點測量陣列做準備)。
4. 在被側面平面 1 上抓取若干點(點數可根據實際情況確定),比如點 1 至點 6。
5. 運用陣列功能,得到相應的點(如點 7 至點 12)。
6. 構造特征組,選點要一一對應,得到掃描 1(即被測對象)。
7. 評價對稱度,將 PLN3 定義為基準 A,掃描 1 為被測。
另外,在測量時要保證二次元影像測量儀在有效的校準期間內,熟悉零件圖紙和測量要求,以確保測量結果的準確性。
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